ابزاری برای تسهیل کاربری دستگاه AFM


دسته‌بندی: فناوری نانو
به‌روزرسانی: ۱۳۹۳/۱۱/۰۳
مطالعه: حدود ۲ دقیقه
ابزاری برای تسهیل کاربری دستگاه AFM

پارک سیستم (Park Systems) با استفاده از چند فناوری انحصاری، موفق به ارائه ابزاری برای میکروسکوپ‌های AFM شده که با استفاده از آن می‌توان فرآیند تصویربرداری نانومقیاس را تسهیل کرد.

پارک سیستم (Park Systems) یکی از شرکت‌های تولید کننده میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) است که از سال 1997 در این حوزه فعالیت دارد. این شرکت اخیراً ابزار جدیدی روی میکروسکوپ‌های خود نصب کرده که با استفاده از آن می‌توان به سادگی تصاویری با قدرت تفکیک نانومتری تهیه کرد؛ بدون این که نیاز به تجربه بالایی در حوزه AFM باشد. این ابزار که SmartScan نام دارد موجب می‌شود که همه بتوانند از میکروسکوپ AFM استفاده کنند. این ابزار، انقلابی در بخش کار با AFM ایجاد خواهد کرد.
معمولاً برای کار با میکروسکوپ نیروی اتمی باید تنظیمات زمان‌بر و سختی را انجام داد؛ برای مثال تنظیم ارتفاع اسکنر (موسوم به تنظیم Z) نیاز به مهارت بالایی دارد به طوری که نوک میکروسکوپ بدون این که برخوردی با سطح داشته باشد، باید در ارتفاع چند نانومتری سطح نمونه قرار گیرد که محاسبه و تنظیم این ارتفاع کاری بسیار دشوار است. همچنین تنظیم سرعت حرکت نوک نیز تأثیر زیادی روی نتایج کار دارد.
سانگ ایل پارگ، مدیرعامل شرکت پارک‌سیستم، می‌گوید: « SmartScan نسل جدیدی از ادوات AFM است که ما آن را بدون دریافت هزینه‌ای برای مشتریان‌مان نصب می‌کنیم. با این ابزار، کاربران می‌توانند روی آنالیز داده‌ها متمرکز شده و همچنین گرفتن تصاویر نانومقیاس با این ابزار را ساده‌تر کنند. هدف ما به عنوان یکی از شرکت‌های پیشرو در حوزه AFM این است که مسیری ساده برای رسیدن به تصاویر با قدرت تفکیک بالا ارائه کنیم.»
SmartScan تمام تنظیماتی را که پیش از این کاربر دستگاه انجام می‌داد، به صورت خودکار انجام می‌دهد. این بدان معناست که خود دستگاه بهترین سرعت و شرایط را برای گرفتن تصویر مناسب فراهم می‌کند. بنابراین کاربر دستگاه به مراجعه پی‌درپی به دستورالعمل دستگاه نیاز نخواهد داشت.
FastApproach™ نام فناوری است که پتنت آن توسط پارک سیستم در حال ثبت شدن است. این فناوری برای نزدیک کردن نوک میکروسکوپ به سطح نمونه در کمترین زمان ممکن استفاده می‌شود. AdaptiveScan™ نیز که فناوری‌ آن در حال پتنت شده است، برای گرفتن تصویر با کیفیت بالا در کمترین زمان مورد استفاده قرار می‌گیرد.
منبع:
Professional AFM Images with a Three Step Click SmartScan by Park Systems
ترجمه توسط ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

برچسب‌ها: ,

برای نوشتن دیدگاه وارد حساب کاربری خود شوید.

در حال بارگذاری دیدگاه‌ها ...
sit nec elementum justo adipiscing sed Donec